株式会社高岳製作所 エレクトロニクス装置事業本部

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TAKAOKAの半導体業界向け検査装置は、長年培ってきたオプトエレクトニクス技術とメカトロニクス技術が基盤となっています。めざましく進歩する半導体デバイスは、ますます微細化高密度化しており、その検査の自動化・高速化することが、最先端半導体の開発や生産現場において必要不可欠なものになってきています。高岳の検査装置は、当社独自の最先端計測原理を基軸にデジタル信号技術・画像処理技術を駆使した高速・高精度な検査を可能にした製品です。

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  • ＳＥＭＩＣＯＮ　ＪＡＰＡＮ２００８　（会期：１２月３日～５日　於：幕張メッセ）に出展いたします。
    是非　当社ブースにお立ち寄りください。（ブース番号：９Ａ４０４）